1. Materials science and engineering. Key innovations for microelectronic products with high performance and reliability.
30.01.2013, godz. 15.00 , Wydział Inżynierii Materiałowej PW, s. 305

2. 4D materials and process characterization. A challenge to nanoscale materials analysis.
12.02.2013, godz. 11.00, Wydział Inżynierii Materiałowej PW, s. 305

Prof. Ehrenfried Zschech, Fraunhofer Institute for Nondestructive Testing, Germany

poster